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SC2020晶體管參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)
SC2020晶體管參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)系統(tǒng)概述
SC2020晶體管參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)是我司自主研發(fā)的半導(dǎo)體分立器件電學(xué)參數(shù)測(cè)試的專(zhuān)用設(shè)備,主要用于半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠(chǎng)家進(jìn)行圓片中測(cè)或封裝成測(cè),各類(lèi)整機(jī)廠(chǎng)家、科研院所的質(zhì)量檢測(cè)部門(mén)IQC進(jìn)行來(lái)料檢驗(yàn),研發(fā)部門(mén)進(jìn)行失效分析、選型配對(duì)、可靠性分析測(cè)試。
系統(tǒng)為桌面放置的臺(tái)式機(jī)結(jié)構(gòu),由測(cè)試主機(jī)和程控電腦兩大部分組成。外掛各類(lèi)夾具和適配器,還能夠通過(guò)Prober接口、Handler接口可選(16Bin)連接分選機(jī)和機(jī)械手建立工作站,實(shí)現(xiàn)快速批量化測(cè)試。通過(guò)軟件設(shè)置可依照被測(cè)器件的參數(shù)等級(jí)進(jìn)行自動(dòng)分類(lèi)存放。能夠極好的應(yīng)對(duì)“來(lái)料檢驗(yàn) ”“失效分析 ”“選型配對(duì) ”“量產(chǎn)測(cè)試 ”等不同應(yīng)用場(chǎng)景。
系統(tǒng)軟件基于Labview平臺(tái)開(kāi)發(fā),填充式菜單界面,帶自動(dòng)糾錯(cuò)功能,可進(jìn)行器件參數(shù)的分檔、分類(lèi)編程,并可實(shí)時(shí)顯示和記錄分檔、分類(lèi)測(cè)試結(jié)果,測(cè)試結(jié)果和統(tǒng)計(jì)結(jié)果均可以EXCEL格式存貯于計(jì)算機(jī)中,根據(jù)需要可以打印輸出。
SC2020晶體管參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)系統(tǒng)特點(diǎn)
◆ 系統(tǒng)采用大規(guī)模32位ARM&MCU設(shè)計(jì)
◆ 可測(cè)試7大類(lèi)26分類(lèi)的電子元器件
◆ 程控高壓源1400V,提供2000V選配
◆ 程控高流源40A,提供100A,200A,500A 選配
◆ 控制極電壓可達(dá)40V,電流可達(dá)100mA
◆ 系統(tǒng)數(shù)據(jù)采集采用16位ADC,1M/S采樣速率
◆ 測(cè)試漏流分辨率達(dá)1.5pA
◆ 四線(xiàn)開(kāi)爾文連接保證加載測(cè)量的準(zhǔn)確
◆ Prober接口、Handler接口可選(16Bin)
◆ 連接分選機(jī)可達(dá)測(cè)試量為每小時(shí)1萬(wàn)個(gè)
◆ 可為用戶(hù)提供豐富的測(cè)試適配器
◆ 可選配測(cè)試結(jié)電容,諸如Ciss,Crss,Coss;
◆ 系統(tǒng)符合《GJB128半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》等相應(yīng)的國(guó)軍標(biāo)及國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。
SC2020晶體管參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)系統(tǒng)指標(biāo)
?技術(shù)指標(biāo)
系統(tǒng)功能模塊 |
量程 |
分辨率 |
精度 |
低壓源(FV) |
0~±40V |
1uV |
±0.1% |
低流源(FI) |
0~±100mA |
1pA |
±0.1% |
高壓源(HVS) |
0~±1400V/2000V |
1mV |
±0.5% |
高流源(HIS) |
0~±40A/100A/200A/500A |
1uA |
±1% |
電壓測(cè)量(MV) |
0~±1400V/2000V |
1uV |
±0.1% |
電流測(cè)量(MI) |
0~±40A/100A/200A/500A |
1pA |
±0.1% |
?測(cè)試能力
器件種類(lèi) |
測(cè)試參數(shù) |
二極管類(lèi) (含TVS SBD ZENER整流橋) |
BVR、IR、VF、VZ、RZ、ZZ、Vrrm、Irrm、Tr(選配) |
三極管 |
BVCBO、BVCEO、BVCES、BVEBO、HFE、ICBO、ICEO、ICES、IEBO、VBESAT、VCESAT、VBE、選配(Ciss、Coss、Crss) |
可控硅/雙向可控硅 |
IGT、VGT、VTM、VDRM、VRRM、IH、IL、IDRM、IRRM |
場(chǎng)效應(yīng)管 |
VGSTH、IDSS、BVDSS、VDSON、IGSS、VSD、VGSON、IDON、RDSON、GFS、選配(Ciss、Coss、Crss) |
IGBT |
BVCES、BVGES、ICES、IGES、VCESAT、VGETH、VCEON、VGEON、VF、ICON、選配(Ciss、Coss、Crss) |
壓敏電阻 |
VRRM、VDRM、IRRM、IDRM、Cka |
光耦 |
VF、IR、BVCEO、VF、IR、BVCEO、BVECO、ICEO、CTR、VCESAT、 選配(Tr、Tf) |
三/四端穩(wěn)壓器 |
Vout、Iin、IB、VD、Max_lo、Ro |
繼電器 |
Vf、Ir、Vl、Il、Ift、Ron、選配(Ton、Toff) |
功率驅(qū)動(dòng)器、 高邊功率開(kāi)關(guān) |
Vbb(AZ)、Von(CL)、Rson、Ibb(off)、Il(lim)、Coss、Fun_pin_volt、lvs(off)、lvs(on)、Rson_h、Rson_l、lin、Iinh、ls_Volt、Sr_volt |
電壓保護(hù)器 |
Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr |
基準(zhǔn)IC模塊 |
Vref、 △Vref、lref、Imin、loff、Zka、Vka |
傳感監(jiān)測(cè)類(lèi) |
電流傳感器(ACS712XX系列、CSNR_15XX系列)(選配); 霍爾器件(MT44XX系列、A12XX系列)(選配); 電壓監(jiān)控器(選配);電壓復(fù)位IC(選配); |
SC2020晶體管參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試原理
1)閾值電壓測(cè)試電路
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2)集射極截止電壓/集射極截止電流測(cè)試電路
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3)IGBT 飽和壓降/FRD 正向?qū)▔航禍y(cè)試電路
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4)柵極漏電流測(cè)試電路
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