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產(chǎn)品資料

半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)

如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話,可以
產(chǎn)品名稱: 半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào): SC2010
產(chǎn)品展商: 中昊芯測(cè)
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔

簡(jiǎn)單介紹

SC2010半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)是一款非常具有代表性的新型半導(dǎo)體晶體管參數(shù)測(cè)試圖示系統(tǒng),是美國(guó)STI5000系列測(cè)試機(jī)的國(guó)產(chǎn)替代機(jī)型,本系統(tǒng)可自動(dòng)生成功率器件的?I-V 曲線,也可根據(jù)客戶的實(shí)際需求設(shè)置功能測(cè)試,直接讀取數(shù)顯結(jié)果。系統(tǒng)在失效分析,?IQC?來(lái)料檢驗(yàn)及高校實(shí)驗(yàn)室等部門有廣泛的應(yīng)?用。系統(tǒng)生成的曲線都使用?ATE?系統(tǒng)逐點(diǎn)建立,保證了數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確可靠。系統(tǒng)典型的測(cè)試時(shí)間是?6 to?20ms,通常上百?個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)曲線只需要幾秒鐘時(shí)間便可以展現(xiàn)出來(lái),數(shù)據(jù)捕獲的曲線可導(dǎo)入?EXCEL?等格式進(jìn)一步分析研究,是一款高效多功能的半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備


半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)  的詳細(xì)介紹

SC2010半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)                       

1.1 系統(tǒng)概述

SC2010半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)是一款非常具有代表性的新型半導(dǎo)體晶體管參數(shù)測(cè)試圖示系統(tǒng),是美國(guó)STI5000系列測(cè)試機(jī)的國(guó)產(chǎn)替代機(jī)型,本系統(tǒng)可自動(dòng)生成功率器件的 I-V 曲線,也可根據(jù)客戶的實(shí)際需求設(shè)置功能測(cè)試,直接讀取數(shù)顯結(jié)果。系統(tǒng)在失效分析, IQC 來(lái)料檢驗(yàn)及高校實(shí)驗(yàn)室等部門有廣泛的應(yīng) 用。系統(tǒng)生成的曲線都使用 ATE 系統(tǒng)逐點(diǎn)建立,保證了數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確可靠。系統(tǒng)典型的測(cè)試時(shí)間是 6 to 20ms,通常上百 個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)曲線只需要幾秒鐘時(shí)間便可以展現(xiàn)出來(lái),數(shù)據(jù)捕獲的曲線可導(dǎo)入 EXCEL 等格式進(jìn)一步分析研究,是一款高效多功能的半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備。

本系統(tǒng)使用方便,只需要通過(guò) USB 或者 RS232 與電腦連接,通過(guò)電腦中友好的人機(jī)界面操作,即可完成測(cè)試。并可以實(shí)現(xiàn)測(cè)試數(shù)據(jù)以 EXCEL  WORD 的格式保存。系統(tǒng)提供過(guò)電保護(hù)功能,門極過(guò)電保護(hù)適配器提供了廣泛的診斷測(cè) 試。這些自我測(cè)試診斷被編成測(cè)試代碼,以提供自我測(cè)試夾具,在任何時(shí)間都可以檢測(cè)。對(duì)診斷設(shè)備狀態(tài)和測(cè)試結(jié)果提供了可靠地保證。


1.2 系統(tǒng)指標(biāo)

測(cè)     ≤2KV  

測(cè)     ≤100A

電壓分辨  1mV

電流分辨  0.1nA

測(cè)   0.2%+2LSB

測(cè)  度: 0.5ms/參數(shù)

測(cè) 式: 程控脈沖式

度: 300us5ms

規(guī) 寸: 570*450*280mm

1.3 產(chǎn)品特點(diǎn)

測(cè)試范圍廣(19 大類,27 分類)

擴(kuò)展性強(qiáng),支持電壓電流階梯式升級(jí)至 2000V,1250A

被測(cè)器件接觸不 良時(shí)系統(tǒng)自動(dòng)停止,保證被測(cè)器件不受損壞

動(dòng)態(tài)跨導(dǎo)測(cè)試精準(zhǔn)(主流的直流法測(cè)得,其結(jié)果與實(shí)際值偏差很大)

系統(tǒng)故障在線判斷定位設(shè)計(jì),便于應(yīng)急處理排障

二極管極性自動(dòng)判別功能,無(wú)需人工操作

IV 曲線顯示 / 局部放大

過(guò)壓過(guò)流保護(hù)以防損壞器件

品種繁多的曲線

可編程延遲時(shí)間可減少器件發(fā)熱

曲線和數(shù)據(jù)直接導(dǎo)入到 EXCEL


1.4 測(cè)試能力

SC2010測(cè)試系統(tǒng)是專為測(cè)試半導(dǎo)體分立器件而研發(fā)設(shè)計(jì)。它具有十分豐富的編程軟件和強(qiáng)大的測(cè)試能力,能夠真實(shí) 準(zhǔn)確測(cè)試以下類型的半導(dǎo)體器件以及相關(guān)器件組成的組合器件、器件陣列:

序號(hào)

測(cè)試器件類別

測(cè)試參數(shù)列表

1

二極管 DIODE

IR;BVR ;VF

2

晶體管

TRANSISTOR

ICBO  ICEO  ICER ; ICES  ICEV ; IEBO ;BVCEO ;BVCBO ;BVEBO;

HFE;VCESATVBESAT;VBE(VBEON)RE;VF

3

型場(chǎng)效應(yīng)

 J-FET

IGSS;IDOFF;IDGOBVDGO;BVGSS;VDSONVGSON;IDSSGFS;VGSOFF

4

場(chǎng)效應(yīng)管 MOS-FET

IDSS ;IDSV;IGSSF;   IGSSR ;VGSF ;VGSR ;BVDSS ;VGSTH ;VDSON

VF(VSD) IDON;VGSONRDSON;GFS

5

雙向可控硅 TRIAC

VD+VD-;VT+ ; VT-IGT;VGT IL+;IL-;IH+IH-

6

可控硅 SCR

IDRM;IRRM;IGKOVDRM;VRRM;BVGKOVTM;IGT;VGT;IL;IH

7

絕緣柵雙極晶體管 IGBT

ICES;IGESF;IGESR;BVCESVGETH;VCESATICON;VGEONVF;GFS

8

硅觸發(fā)可控硅 STS

IH+; IH-;VSW+ VSW-;VPK+ VPK-;VGSW+VGSW-

9

達(dá)林頓陣列

DARLINTON

ICBO ;  ICEO ; ICER  ICES ; ICEX ; IEBO  BVCEO ; BVCER ; BVCEE ;

BVCES BVCBO;BVEBO;hFE ;VCESAT; VBESAT;VBEON

10

光電耦合器

 OPTO-COUPLER

ICOFF 、 ICBO ; IR ; BVCEO ; BVECO ; BVCBO  BVEBO ;  CTR ; HFE ;

VCESAT; VSAT;VF(Opto-Diode)

11

繼電器 RELAY

RCOIL;VOPER;VREL;RCONTOPTIME; RELTIME

12

穩(wěn)壓、齊納二極管 ZENER

IR;BVZ;VFZZ

13

三端穩(wěn)壓器

 REGULATOR

Vout;Iin

14

光電開關(guān)

 OPTO-SWITCH

ICOFF;VD;IGT;VON;ION ;IOFF

15

光電邏輯

 OPTO-LOGIC

IR;VF;VOHVOL;IFON; IFOFF

16

金屬氧化物壓變電阻 MOV

ID+  ID-VN+;   VN-;VC+ VCLMP-;VVLMP+ ;

17

固態(tài)過(guò)壓保護(hù)器

 SSOVP

ID+  ID- ;VCLAMP+, VCLAMP- ;VT+ VT- ; IH+ 、 IH- ; ; IBO+ IBO-;

VBO+   VBO-VZ+   VZ-

18

壓變電阻

 VARISTOR

ID+;   ID-;VC+     VC-

19

雙向觸發(fā)二極管

 DIAC

VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-,

1.5 曲線列舉(部分)













1.6 應(yīng)用領(lǐng)域

分立器件設(shè)計(jì)廠家、封裝廠器件測(cè)試、電子產(chǎn)品廠家來(lái)料檢驗(yàn)、實(shí)驗(yàn)室選型配對(duì)、設(shè)備維修分析、高校器件教學(xué)、研究所器件設(shè)計(jì)等等。

 

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